Dell名词说明(ppt 24页)

1.英文缩写:CIP
2.英文全文:ContinuousImprovementProcess
3.中文:制程持续改善
4.定义说明:
范围：于Array制造厂、Cell制造厂之生产制程中所发生之
品质异常TOP5或80%。
流程：TOP3选定→TaskForce成立→目标订定→
TaskForce会议→现况掌握/根因分析→拟定改善计划→
───
对策实施→效果确认───→标准化→结案
1.英文缩写:FPY
2.英文全文:FirstPassYield
3.中文:直通率
4.定义说明:
直通率=一次流品数(不含Repair品)/总投入数
一次流品数：
Array：所有SHEET数
Cell：S、A、B品
Module：S、A、B品

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