测量系统分析

测量系统分析目录：
一、测量系统所应具有之统计特性
二、标准
三、测量系统的评定
四、各项定义
五、分析时机

 

测量系统分析内容摘要：
一、测量系统所应具有之统计特性
  测量系统必须处于统计控制中，这意味着测量系统中的变差只能是由于普通原因而不是由于特殊原因造成的。这可称为统计稳定性 。
    测量系统的变差必须比制造过程的变差小 。
  变差应小于公差带 。
    测量精度应高于过程变差和公差带两者中精度较高者，一般来说，测量精度是过程变差和公差带两者中精度较高者的十分之一 。
  测量系统统计特性可能随被测项目的改变而变化。若真的如此，则测量系统的最大的变差应小于过程变差和公差带两者中的较小者 。
二、标准
  国家标准
  第一级标准(连接国家标准和私人公司、科研机构等)
  第二级标准(从第一级标准传递到第二级标准)
  工作标准(从第二级标准传递到工作标准)

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