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统计学基础及MSASPC和CPK概述(PPT 87页)

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MSA测量系统分析
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相关资料:
统计学基础,msa,ASP,spc,cpk
统计学基础及MSASPC和CPK概述(PPT 87页)内容简介
统计学基础及MSA,SPC,CPK
一、统计方法及用途
二、统计数据及其分类
三、总体与样本
四、统计特征数
五、数据分布形态
六、产品质量波动
测量System误差
九、控制图
(1)Xbar-R控制图(平均数-极差控制图)
质量资料可以合理分组时,为分析或控制制程平均使用Xbar-控制图,当制程变异使用R-控制图
(2)Xbar-S控制图(平均数-标准差控制图)
S-控制图检出力较R控制图大,但计算麻烦,一般样本n<6使用R控制图,n>=6使用S控制图
(3)Xmed-R控制图(中位元元数-极差控制图)
Xmed-控制图检出力较差,但计算较为简单
(4)X-Rm控制图(个别值-移动极差控制图)
质量资料不能合理分组时使用,如液体浓度
(1)P控制图(不良率控制图)
用来侦查或控制生产批中不良件数的小数比或百分比,样本大小n
可以不同。
(2)np控制图(不良数控制图)
用来侦查一个生产批中的实际不良数量(而不是与样本的比率)。
分析或控制制程不良数,样本大小n要相同。
(3)C控制图(缺点数控制图)
能在每一批量的生产中侦查出每一零件或受检验单位不良点的数
目,样本大小n要相同。
(4)U控制图(单位元缺点数控制图)
记录一个抽样批有几个缺点数,抽样时每次可以不相同,但以单位
缺点数代表质量水平。
十、过程能力指数
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统计学基础及MSASPC和CPK概述(PPT 87页)