产品品质Excursion作业办法-D1(doc 19)

一、 背景
目前廠內推行Product Yield Management（產品良率管理），影響良率的因素有兩種形態；一為長期以來其品質水準就差的（chronic），另一為突發異常（excursion），而兩者的解決程序與手法有所不同，因而訂立此法使Excursion處理有所依據。
二、 理念政策
為引進Intel產品良率Excursion管理手法，并將內部改善活動串聯，建立完整并且適合華通產品特性，使之制度化組織化之管理模式作為產品良率Excursion管理活動之依據。
三、 目的
籍由訂立不同的異常問題形態，用不同的解決程序與手法，以便迅速有效解決問題提升品質。

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