ARMJTAG调试原理与调试构架(pdf 22页)

1 前言
2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
3 ARM7TDMI 调试构架
4 ARM7TDMI 调试原理
5 总结

 

 

2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
既然是介绍JTAG调试，还是让我们从IEEE的JTAG调试标准开始吧。JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的简称。IEEE 1149.1标准就是由JTAG这个组织最初提出的，最终由IEEE批准并且标准化的。所以，这个IEEE 1149.1这个标准一般也俗称JTAG调试标准。
接下来的这一部分，主要简单的介绍了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本构架。虽然不是很全面，但对了解JTAG的基本原理来说，应该是差不离了。如果希望更全面深入的了解JTAG的工作原理，可以参考IEEE 1149.1标准。
2-1 边界扫描
在JTAG调试当中，边界扫描（Boundary-Scan）是一个很重要的概念。边界扫描技术的基本思想是在靠近芯片的输入输出管脚上增加一个移位寄存器单元。因为这些移位寄存器单元都分布在芯片的边界上（周围），

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