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某工程仪校方法(doc 27页)

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激励与沟通
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某工程仪校方法(doc 27页)内容简介

某工程仪校方法目录:
第一章  游标卡尺
第二章  带表卡尺
第三章 数显卡尺
一、概述
二、技术要求
三、检定条件及检定项目
四、检定方法
五、检定结果的处理及检定周期
第二节  外校与内校

 

某工程仪校方法内容提要:
新制的数显卡尺圆柱面内量爪基本尺寸为10mm或20mm。使用中和修理后的允许小于基本尺寸b﹐但应为0.1mm的整数倍。新的标称尺寸应在检定证书上加以注明。
10.2检定方法﹕尺寸b用3级或6等量块和杠杆式千分尺(或零级千分尺)沿数显卡尺量爪﹐在平行于尺身的方向上测量。在其它方向上测量时﹐测得值也不应超过表6的规定。检定应在尺框紧固与松开的两种状态下进行。
平行度在内量爪距外端2mm处开始测量﹐以全长范围内最大最小尺寸之差确定。
12.1. 刀口内量爪尺寸
11.1要求﹕不超过表7的规定。
11.2检定方法﹕先将一块3级或6等10mm量块放置于两外量爪测量面之间。旋紧制动螺钉后﹐该量块应能在测量面间滑动而不脱落。用杠杆式千分尺或零级千分尺在平行于尺身方向﹐沿全长范围内测量刀口内量爪尺寸。尺寸偏差由测得值与量块尺寸之差确定。在其它方向上测量时﹐测得值也不应超过表7的规定。
13.2.1外测量爪的示值误差检定
用3级或6等量块检定。对示值范围至300mm的数显卡尺﹐至少在示值范围内均匀分布的3点上检定﹔对于示值范围大于300mm的数显卡尺﹐至少在6点检定。例如﹐对测量范围0~300mm的数显卡尺﹐其示值范围为300mm﹐检定点可选在101.2﹑201.5和291.8mm3点。
检定时﹐应首先移动尺框﹐使两测量面至手感接触并置零。在每个受检点上均在量爪的里端两个位置上进行检定﹐而且量块工作面长边应与数显卡尺测量面长边相垂直。示值误差以显示值与量块尺寸之差确定。
     13.2.2深度尺和台阶尺的示值误差检定
     深度尺和台阶尺在尺寸为20mm上检定。在检定之前﹐应首先移动尺框﹐使两测量面至手感接触﹐并置零。然后用两块尺寸为20mm的3级或6等量块置于1级平板上﹐使尺身尾部端面或尺框前端台阶测量面与量块接触,并移动深度尺或台阶测量尺,使其测量面与平板接触,此时的显示值与量块尺寸之差即为示值误差.
14. 显示器示值稳定度
14.1要求: 1h内不大于0.01mm.
    14.2检定方法: 目力观察.
在数显卡尺测量范围内的任意位置紧固尺框.在1h内显示值的变化不大于规定值.

 


 


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