AMBA总线的可重用IP核设计及其验证研究(PDF 75页）

第一章绪论
第一章绪论。介绍集成电路的发展，集成电路设计和验证技术的概况，SoC
第三章VAC IP核的设计。介绍VAC IP软核、固核及硬核各个功能模块的
第三章VAC IP核设计
第二作者．A System—level Mixed DFT-TAM Structure For SoC Design．The
第二章AMBA片上系统体系结构
第二章AMBA片上系统体系结构研究。介绍主流的SoC的体系结构——
第五章工作总结
第五章总结与展望。总结论文的工作，对论文的工作进一步开展做了介绍。
第四章VAC IP核的验证
第四章VAC IP核的验证研究。根据集成电路验证方法学，搭建可重用的
表2．1 AMBAAHB的信号列表
表2．2APB总线信号列表
表3．1 VACIP八种显示方式
表3．2字符叠加模块I／0信号列表
表3．3八种叠加点阵符号信息面积选择显示模式与对应寻访地址分配
表3．4APB总线接口模块信号列表
表3．5信号后缀命名范例
表3．5是信号后缀命名规范示例。
表3．6综合的环境和时序约束
表3．7VAC IP硬核的物理信息
表4 5 Calibre DRC运行环境参数设置
表4，1情景式测试方案和常用功能测试方案下的测试时间与工作效率
表4．2字符叠加模块的验证计划
表4．2所列出的条款是单独测试内容，在实际验证中仍由很多测试内容需
表4．3 STA文件准备
表4．6 Calibre LVS运行环境参数设置
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