持续改进与统计过程控制概述(ppt 84页)

持续改进与统计过程控制概述目录：
一、 持续改进及统计过程控制概述
二、 用于计数型数据的控制图
三、 不合格品数的np图
四、 不合格数的C图

 

持续改进与统计过程控制概述内容提要：
选择控制图的刻度：
对于X图,坐标上的刻度值的最大值与最小值之差应至少为子组均值(X)的最大值与最小值差的 2 倍.对于 R 图,刻度值应从最低值为 0 开始到最大值之间的差值为初始阶段遇到的最大极差( R )的 2倍.
计算控制限：
计算控制限是为了显示仅存在变差的普通原因时子组的均值和极差的变化范围
分析极差图上的数据点由于不论解释子组极差或子组均值的能力都取决于零件间的变差.因此我们先分析 R 图.
a.超出控制限的点-出现一个或多个点超出任一个控制限是该点处于失控状态下的主要证据.通常说明存在下列情况中的一种或几种:
控制限计算错误或描点时描错;
零件间的变化已增大;
测量系统变化(例如,不同的检验员或量具);
测量系统没有适当的分辨力.

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