SPC统计实用培训教材(ppt 49页)

SPC统计实用培训教材目录：
一、持续改进及统计过程控制概述
二、SPC基础
三、计数型数据控制图

 

SPC统计实用培训教材内容提要：
持续改进及统计过程控制概述：
预防与检测
过程控制系统
变差：普通原因及特殊原因
局部措施和对系统采取措施
过程控制和过程能力
过程改进循环及过程控制
控制图：过程控制工具
控制图的益处
SPC基础：
SPC (Statistical Process Control)
    统计过程控制：利用统计技术对过程中的各个阶段进行监控，从而得到保证产品质量的目的。
二十世纪二十年代美国休哈特(W.A.Shewhart)首创过程控制(Process Control)理论极其监控过程的工具—控制图(Control Chart)形成SPC的基础，后扩展到任何可以应用的数理统计方法。
控制图(Control Chart)：对过程质量特性记录评估，以监察过程是否处于受控状态的一种统计方法图。
1924年5月6日休哈特提出的不合格样品率P控制图为世界第一张控制图。
正态分布：
分布(distribution)：用来描述随机现象的统计规律，说明两个问题：变异的幅度有多大；出现这么大幅度的概率。
计量特性值：如PCB金手指厚度、重量或时间等连续性数据，最常见的是正态分布(normal distribution)。
计件特性值：如内存合格/不合格两种离散性数据，最常见的是二项分布(binomial distribution)。
 计点特性值：如每条内存上少锡点数等离散性数据，最常见的是泊松分布(Poisson distribution)。
由于二项分布和泊松分布数据数理统计理论较复杂，以下讨论以正态分布为例。

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