QC五大工具介绍(PPT 62页)

一、量测数据的质量
二、量测过程
三、量测系统的统计特性
1.量测系统均须在统计管制下而其所产生之变异
应根源于共同原因，而非特殊原因。
2.量测系统之变异须相对小于生产制程之变异。
3.量测系统之变异须相对小于规格界限。
4.量测系统之最小刻度须相对小于制程变异或规格界限之较小者。
(一)位置变异(Location Variation)
(二)宽度变异(Width Variation)
(三)量测系统变异(Measurement System Variation)
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