SPC统计过程控制培训教材(PPT 53页)

SPC统计过程控制
1.数据收集：
A）确定抽样频率和抽样数目
2–6平均值-全距管制图
>6平均值-标准差管制图
=1个别值-移动全距管制图
根据制程状况，一般情况下每2小时抽样一次，
为便于数据处理，每次抽样数为5PCS，共抽取25个子组。
2.计算控制界限：
A）全距控制图控制界限
R=SRi/k
UCLR=D4R
LCLR=D3R
R=所有样本的平均全距
k=样本个数（组数）
UCLR=全距的上控制界限
LCLR=全距的下控制界限
平均值控制图控制界限：
x=Sxi/k
UCLx=µ+A2R
LCLx=µ-A2R（系数都是A2）
注：µ=x=所有抽样组平均值的平均值（实际是全部数据的平均）
Xi=第i个抽样组的平均值
k=样本个数
UCLx=平均值的上控制界限
LCLx=平均值的下控制界限
全距控制图：控制精密度，或离散程度
平均值控制图：控制准确度，或偏离目标值的程度
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