数字集成电路测试系统设计模式(doc 5)

一、测试系统结构及工作原理
二、通道板
三、精密测量单元

随着数字集成电路的广泛应用，测试系统就显得越来越重要。在网络化集成电路可靠性试验及测试系统项目中，需要检验某些具有宽电平范围的军用数字集成电路芯片，而市场上常见的中小型测试系统可测电平范围达不到要求，而大型测试系统价格昂贵。本文介绍了为此项目研制的一种数字集成电路测试系统，可测电平范围达±32V，使用方便，且成本较低

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