低压ZnO压敏电阻器的性能与工艺研究论文(PDF 55页）

§1．1 ZnO压敏电阻的工作特性
§1．2低压氧化锌压敏元件的用途
§1．3压敏元件的现况
§1．4低压元件存在的问题与相关工艺
§2 4 ZnO压敏电阻器主材料研究
§2．2 ZnO压敏电阻器的性能参数
§2．3 Zn0压敏电阻器压敏特性的研究
§2．5杂质的固溶问题
§2．6烧结过程研究
§2．7烧结模型
§2．8粉体粒度的问题
§2．9应力与漏电流分析
§3．1化学共沉淀法与元件性能测试
§3．2氧化锌籽晶制备工艺以及性能
§3．3 TiO：溶胶制备工艺以及性能
§3．4混合法制备低压氧化锌压敏元件
§3．5烧结与热处理工艺的改进
§3．6配方改进
图1．1 zno压敏电阻的u-I曲线
图1．2U-I曲线对比
图1．2所示。
图1．3 ZnO避雷器正常工作的等效电路
图1．4中国大陆与发达国家优劣势矩阵图
图2 4低压ZaO元什的XRD衍射谱
图2 I ZnO压敏电阻器的显微结构示意固
图212电子探针点扫描结果
图2．13 ZnO-Ti05系统相图
图2．14压敏电压与烧成温度曲线图
图2．15证明了上述的解释的合理性。非线性系数Q反映的实质就是晶界势
图2．15非线性系数与烧成温度的图
图2．16 ZnO晶粒长大过程杂质固溶的模型
图2．17一维情况下晶粒杂质浓度分布图，k远小于1时
图2．18一维情况下晶粒杂质浓度分布图，k取合适值时
图2．19一维情况下晶粒杂质浓度分布图，k接近1时
图2．2(a)是低压ZnO压敏元件截面的背散射电子图像。对比一般的高压元
图2．2低压压敏电阻与低压压敏电阻的截面对比图
图2．5压敏兀件晶界能带图
图2．6两种ZnO的品格结构图
图2．7 zIlO晶体能带图
图2．8 ZnO-Bi203二元相图
图2．9显微镜视野F的理想晶粒相组织结构示意图
图3．1共沉淀工艺流程图
图3．2共沉淀粉体XRD图谱
图3．4邺5添加量与通流关系图
图中可毗得到以下有用的信息。
表1．1主要制粉工艺总结表
表21绝缘体导电机制
表3．1三种元素沉淀的pH值
表3．2共沉淀法制备元件与固相法制备元件的测试结果
表3．3不同籽晶添加量的元件的测试结果
表3．4 Ti02溶胶法制备元件与固相法制备元件的测试结果
表3．5复合法制备元件与固相法制备元件的测试结果
..............................